イシカワ ヤスアキ
ISHIKAWA Yasuaki
石河 泰明 所属 青山学院大学 理工学部 電気電子工学科 職種 教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2020/12 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | Recover possibilities of potential induced degradation caused by the micro-cracked locations in p-type crystalline silicon solar cells |
執筆形態 | 共同 |
掲載誌名 | Prog. Photovolt. |
掲載区分 | 国外 |
巻・号・頁 | 29,pp.423-432 |
著者・共著者 | Dong Chung Nguyen, Yasuaki Ishikawa, and Yukiharu Uraoka |
DOI | 10.1002/pip.3383 |